PETA KEKUATAN PENGUKURAN BERSKALA NANO DI INDONESIA

Nur Tjahyo Eka Darmayanti, Ardi Rahman, Asep Ridwan Nugraha

Abstract


Perkembangan nanoteknologi di dunia terus bergerak maju. Di Indonesia, perkembangan nanoteknologi berjalan lambat dan aplikasinya belum sebanyak negara-negara maju. Aplikasi nanoteknologi baru difokuskan pada pertanian, bahan maju, farmasi dan energi. Tak pelak lagi untuk mendorong nanoteknologi agar berkembang pesat adalah dibutuhkannya penerapan ilmu pengukuran pada skala nano yaitu dengan nanometrologi. Nanometrologi berperan dalam penjaminan keabsahan hasil pengukuran melalui suatu ketertelusuran pengukuran. Nanometrologi dapat diterapkan dengan baik apabila kebutuhan nasional terhadap ketertelusuran pengukuran berskala nano dapat diketahui dan dipetakan. Makalah ini membahas pemetaan potensi dan kebutuhan ketertelusuran pengukuran berskala nano di Indonesia. Selain itu, makalah ini juga mengidentifikasikan permasalahan-permasalahan yang timbul ketika nanometrologi diterapkan. Data diperoleh melalui survey dengan menyebarkan kuisioner ke berbagai lembaga riset dan perguruan tinggi yang telah diketahui memiliki alat-alat ukur objek berskala nano. Hasil penelitian menunjukkan bahwa kebutuhan terbesar terhadap ketertelusuran pengukuran adalah untuk alat ukur Scanning Electron Microscope (SEM) dan Brunauer, Emmett and Teller (BET) dengan persentase 19%. Dengan adanya penelitian ini maka diharapkan nanometrologi dapat diterapkan secara baik dan dapat turut mempercepat perkembangan nanoteknologi serta mampu menyelesaikan permasalahan ketertelusuran di Indonesia. 


Full Text:

PDF


DOI: http://dx.doi.org/10.14203/instrumentasi.v42i1.101

Copyright (c) 2019 Instrumentasi

Creative Commons License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.

Copyright &copy 2015 Jurnal Instrumentasi (p-ISSN: 0125-9202, e-ISSN:2460-1462). All Rights Reserved.



Creative Commons License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.