MENYOAL URGENSI UJI PROFISIENSI NANOMETROLOGI DIMENSI DI INDONESIA

Nur Tjahyo Eka Darmayanti, Asep Ridwan Nugraha, Diina Qiyaman, Ardi Rahman

Abstract


Nanoteknologi dan nanometrologi adalah dua bidang keilmuan yang tidak bisa dipisahkan. Perkembangan pesat pada penelitian yang menghasilkan produk nanoteknologi tentunya membutuhkan nanometrologi untuk menjamin kontrol kualitasnya. Tren pengembangan nanoteknologi saat ini terus naik baik di dunia maupun di Indonesia. Indonesia sebagai negara dengan potensi pasar yang besar, memiliki bahan baku untuk memproduksi material nano. Hal ini menjadikan Indonesia memiliki posisi yang diperhitungkan di dunia. Puslit Metrologi LIPI sebagai lembaga metrologi nasional memiliki peran untuk mengembangkan ketertelusuran nanometrologi di Indonesia. Di dalam makalah ini dibahas mengenai pentingnya uji profisiensi pada bidang nanometrologi. Uji profisiensi dilakukan mengacu pada uji banding yang dilakukan negara - negara yang tergabung dalam BIPM, terdiri dari berbagai jenis artefak, yaitu: line width standards, step height standards, line scales, 1D gratings, 2D grating dan nano particle. Di Indonesia, kelompok penelitian nanometrologi dari Puslit Metrologi LIPI menyelenggarakan uji banding untuk menguji validitas alat ukur nano yang digunakan di institusi penelitian. Berdasarkan hasil penelitian sebelumnya, uji banding dilakukan pada alat ukur SEM yang paling banyak digunakan, dan penjaminan ketertelusuran nanometrologi dilakukan dalam bidang dimensi. Uji banding dirancang mengacu pada pengujian yang dilakukan Working Group CCL Nano4.


Keywords


nanoteknologi, nanometrologi, uji profisiensi, Indonesia, SEM

Full Text:

PDF

References


Adi, S. H. (2012). Teknologi Nano untuk Pertanian: Aplikasi Hidrogel untuk Efisiensi Irigasi. Jurnal Sumberdaya Lahan, 6(1). JOUR.

Babick, F., Boyd, R., Braun, A., Busch, I., Danzebrink, H. U., Depero, L., … Yacoot, A. (2010). Introductory guide to nanometrology. Belgium: Co-Nanomet. Co-ordination of Nanometrology in Europe.

BIPM. (2017). Appendix B - Key and supplementary comparisons. Retrieved October 10, 2017, from https://kcdb.bipm.org/appendixB/KCDB_ApB_search_result.asp?page=1&search=1&cmp_cod_search=&met_idy=5&bra_idy=0&epo_idy=0&cmt_idy=0&ett_idy_org=0&lab_idy=&cou_cod=0

Bosse, H., Häßler-Grohne, W., Flügge, J., & Köning, R. (2003). Final report on CCL-S3 supplementary line scale comparison Nano3. Metrologia, 40(1A), 4002. article. Retrieved from http://stacks.iop.org/0026-1394/40/i=1A/a=04002

Cifriadi, A., & Kinasih, N. A. (2014). PERKEMBANGAN INDUSTRI NANO FILLER UNTUK INDUSTRI KARET DI INDONESIA. Warta Perkaretan, 33(2), 113–120. JOUR.

Danzebrink, H. U., Koenders, L., Picotto, G. B., Lassila, A., Wang, S. H., & Klapetek, P. (2010). Final report on EUROMET.L-S15.a (EUROMET Project 925): Intercomparison on step height standards and 1D gratings. Metrologia, 47(1A), 4006. article. Retrieved from http://stacks.iop.org/0026-1394/47/i=1A/a=04006

Darmayanti, N. T. E., Novyanto, O., Nelfyenny, & Nugraha, A. R. (2015). Menakar Peluang Perkembangan Nanometrologi di Indonesia. In Pertemuan dan Presentasi Ilmiah (PPI) KIM LIPI (Vol. 41, pp. 41–51). inproceedings.

Decker, J. E., Buhr, E., Diener, A., Eves, B., Kueng, A., Meli, F., … Yao, B.-C. (2009). Report on an international comparison of one-dimensional (1D) grating pitch. Metrologia, 46(1A), 4001. article. Retrieved from http://stacks.iop.org/0026-1394/46/i=1A/a=04001

Garnaes, J., & Dirscherl, K. (2008). NANO5—2D Grating—Final report. Metrologia, 45(1A), 4003. article. Retrieved from http://stacks.iop.org/0026-1394/45/i=1A/a=04003

Harper, T. (2011). The Global Funding of Nanotechnologies and Its Impact. London: Cientifica Ltd. Retrieved from www.cientifica.com

Hayu, R., & Ismail, Z. (2015). PENENTUAN NILAI ACUAN UJI BANDING ANTAR LABORATORIUM KALIBRASI UNTUK KALIBRASI MIKROPIPET BERDASARKAN KONSENSUS. Jurnal Standardisasi, 17(3), 199–206. JOUR. Retrieved from http://ojs.bsn.go.id/index.php/standardisasi/article/view/319/162

Herman, A. S. (2008). Road Map Pengembangan Teknologi Industri Berbasis Nanoteknologi. Jakarta: Pusat Penelitian dan Pengembangan Teknologi Industri-BPPT.

Howland, R., & Benatar, L. (1996). A practical guide to scanning probe microscopy. (C. Symanski & J. Leckenby, Eds.) (1st ed.). BOOK, Buenos Aires: Park scientific instruments.

ISO/IEC. (2010). 17043:2010(E) Conformity assessment — General requirements for proficiency testing. Switzerland: ISO/IEC.

Jensen, D. J., & Poulsen, H. F. (2012). The three dimensional X-ray diffraction technique. Materials Characterization, 72, 1–7. JOUR.

Khairurrijal, & Abdullah, M. (2007). RISET NANOMATERIAL UNTUK PEMECAHAN MASALAH ENERGI DI INDONESIA. In Prosiding Seminar Nasional Sains dan Teknik Nuklir PTNBR – BATAN (pp. 74–79). Bandung: PTNBR-BATAN.

Koenders, L., Bergmans, R., Garnaes, J., Haycocks, J., Korolev, N., Kurosawa, T., … Wilkening, G. (2003). Comparison on Nanometrology: Nano 2—Step height. Metrologia, 40(1A), 4001. article. Retrieved from http://stacks.iop.org/0026-1394/40/i=1A/a=04001

Koenders, L., Klapetek, P., Meli, F., & Picotto, G. B. (2006). Comparison on step height measurements in the nano and micrometre range by scanning force microscopes. Metrologia, 43(1A), 4001. article. Retrieved from http://stacks.iop.org/0026-1394/43/i=1A/a=04001

Leach, R. K., Boyd, R., Burke, T., Danzebrink, H.-U., Dirscherl, K., Dziomba, T., … Yacoot, A. (2011). The European nanometrology landscape. Nanotechnology, 22(6), 62001. http://doi.org/10.1088/0957-4484/22/6/062001

McWilliams, A. (2016). The Maturing Nanotechnology Market: Products and Applications. Wellesley, USA.

Misumi, I., Dai, G., & Peng, G.-S. (2007). Final report on Supplementary Comparison APMP.L-S2: Bilateral comparison on pitch measurements of nanometric lateral scales (50 nm and 100 nm) between NMIJ/AIST (Japan) and PTB (Germany). Metrologia, 44(1A), 4006. article. Retrieved from http://stacks.iop.org/0026-1394/44/i=1A/a=04006

Nugraha, A. R., Rahman, A., Samodro, R. A., & Pusaka, J. (2015). Upaya Pemanfaatan Sarana Nanometrologi di Indonesia Melalui Rencana Pemetaan yang Efektif. In PPI KIM (Ed.), Pertemuan dan Presentasi Ilmiah (PPI) KIM LIPI ke 41 (pp. 60–72). Jakarta: PPI KIM.

Rukhin, A. L. (2009). Weighted means statistics in interlaboratory studies. Metrologia, 46(3), 323. JOUR.

Sekarsari, R. A., & Taufikurrohmah, T. (2012). Sintesis dan Karakterisasi Nanogold dengan Fariasi Konsentrasi HAuC14 sebagai Material Antiaging dalam Kosmetik. In Prosiding Seminar Nasional Kimia Unesa. GEN, Surabaya: Fmipa Unsesa.

Sondari, D., Maarif, M. S., & Arkeman, Y. (2013). Analisis Faktor Yang Mempengaruhi Inovasi Produk




DOI: http://dx.doi.org/10.14203/instrumentasi.v42i1.104

Copyright (c) 2019 Instrumentasi

Creative Commons License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.

Copyright © 2015 Jurnal Instrumentasi (p-ISSN: 0125-9202, e-ISSN:2460-1462). All Rights Reserved.



Creative Commons License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License.